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"잘 만든 반도체인지 깨뜨리지 않고 한눈에 판별한다" 임현섭 교수 연구팀, 차세대 반도체 비파괴 품질 검사 기술 개발
[인사] 광주과학기술원(GIST·지스트)
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2016 Spring - Vol.1
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